半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验
被人们尊称为“统计质量控制之父”或“现代质量控制之父”的是()
A、泰罗
B、朱兰
C、休哈特
D、石川馨
A、L型矩阵图
B、T型矩阵图
C、Y型矩阵图
D、X型矩阵图
E、C型矩阵图
A、宗旨的要求
B、愿景的要求
C、战略的要求
D、价值观的要求
主要通过“事后把关”进行质量控制的质量管理阶段是()
A、质量检验阶段
B、统计质量控制阶段
C、全面质量管理阶段
D、ISO9000标准阶段