半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()

A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验
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正确答案:

D

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