主要通过“事后把关”进行质量控制的质量管理阶段是()
A、质量检验阶段
B、统计质量控制阶段
C、全面质量管理阶段
D、ISO9000标准阶段
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
A、可靠性测定试验
B、可靠性鉴定试验
C、可靠性验收实验
D、环境应力筛选试验
A、讨论法
B、角色扮演法
C、演示法
D、讲演讲授法
A、战略质量计划
B、战略计划
C、方针管理
D、方针目标管理
在国际GB/T4091—2001《常规控制图》中，为了应用其规定的判异准则，将控制图等分为6个区域，每个区域的宽度为()
A、1σ
B、15σ
C、2σ
D、3σ