对同类产品的结构形式和主要参数 进行标准化的形式 ，称为()
B
暂无解析
在新产品样机制成之后进行的评审属于()
在正态分布中，个体落于σ+3μ范围内的概率是()
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
确保在数据和信息处理过程中没有危险，这是指数据和信息的()
